尼康投影機(jī)訊：

　　1 探傷靈敏度

　　2 用于葉輪鍛件的探傷靈敏度，應(yīng)能有效地發(fā)現(xiàn)被檢鍛件中當(dāng)量直徑等于和大于2mm的缺陷。為便于發(fā)現(xiàn)缺陷，允許在尋找缺陷的掃查中使用高于規(guī)定數(shù)值的靈敏度。但在發(fā)現(xiàn)缺陷之后進(jìn)行的各項測量工作，則必須在規(guī)定的靈敏度下進(jìn)行。

　　3 為了調(diào)整探傷靈敏度的需要，應(yīng)在掃描線上方等于屏高40%~80%的范圍內(nèi)事先選定一個平行于掃描線的基準(zhǔn)高度。

　　4 當(dāng)被探部位的厚度大于探頭的三倍近場區(qū)時，可任意選用底波調(diào)整法或試塊調(diào)整法調(diào)整探傷靈敏度。當(dāng)被探部位的厚度等于或小于探頭的三倍近場區(qū)時，應(yīng)采用試塊調(diào)整法。

　　55 底波調(diào)整法

　　6先用能足以顯示材料組織的高靈敏度在鍛件上找出無缺陷的部位。

　　7在符合5.4.1條要求的部位上把底波幅度調(diào)到等于基準(zhǔn)高度。

　　8 根據(jù)被探部位的厚度提高探傷儀增益至規(guī)定數(shù)值，該數(shù)值可用下式求得：

　　M=(2λT)/(πd2)

　　式中：M－需提高的增益倍數(shù)；T－被探部位的厚度，mm；

　　d－平底孔直徑，mm(此處d等于2mm)；λ－波長，mm；π－圓周率，即3.14159。

　　9 試塊調(diào)整法

　　9.1 使用CS-2型參考試塊或具有等效作用的其它試塊上測距等于或近于鍛件厚度，直徑2mm的平底孔進(jìn)行調(diào)整。

　　5.5.2 把符合5.5.1條要求的平底孔信號幅度調(diào)至等于基準(zhǔn)高度。